Topsizer激光粒度分析仪

——中国粒度检测与分析技术的前沿之作

Topsizer激光粒度分析仪是珠海欧美克仪器有限公司经过多年的技术积累后并引进先进技术研发出的一款高性能激光粒度分析仪。它具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点，真正站在了当前粒度检测领域的前沿，代表了中国粒度检测与分析技术的新高度，是广受客户赞誉的国产高性能干湿法激光粒度仪。

一、用途：

既可测量须在液体中分散的样品，也可测量须在气体中分散的粉体材料。

二、工作原理：
利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使欧美克激光粒度仪具备重现性良好、分辨能力高、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。
三、先进的光学系统
双光源技术

Topsizer激光粒度分析仪采用红蓝双光源设计，红光主光源为进口氦-氖激光器，波长0.6328μm，并有蓝光辅助半导体光源，波长0.466μm，弥补了常规设计散射光角度的盲区，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。
稳定的激光光源
进口主光源预热时间短，输出单模偏振激光偏振比达500:1以上，光束中TEM00模占比达95%以上，且激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%，使得仪器的背景很低而且稳定，大大提高了系统对有效信号的分辨能力。
直线光路设计
Topsizer激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，无多余反射光学部件造成的杂散光，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。
后傅立叶变换单镜头设计
单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，使散射光接收角不受傅立叶镜头口径限制；而且单镜头光路中的折射、反射杂散光干扰被减少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至极低水平，提高了仪器测量时的信噪比。
长焦距的傅里叶透镜
Topsizer激光粒度分析仪选用具有长焦距的傅立叶透镜，这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离（也就是有效焦距），从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号，大大增强了仪器对大颗粒的测试能力，仪器的测量上限达2000μm。
合理分布、高感光度的进口光电探测器
Topsizer激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器，确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，探测角范围达到0.016-140度。结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收，有效保证颗粒散射光能信息的全面准确获取。
智能自动对中
智能软件控制自动对中系统保证了准确的光学对中。智能判断自动对中既可作为自动测量的一部分，亦可手动在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重现性。
四、先进的高性能分散进样系统
湿法进样系统：标配SCF-108A循环进样器，采用灯笼头下压式水流循环回路设计，配备大功率准确自动控制搅拌电机，可达3500转/分钟的同时减少了气泡和液体飞溅的产生，并具有效率高的分散、清洗、排干能力。内置功率50W的效率高的管路超声装置，超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池，可根据客户需求更换容量。
可选SCF-105B全自动循环进样器，除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用316L不锈钢，配置效率50W底部超声及速度可达4000转/分钟的精密搅拌装置，均无极连续可调。
根据需要可选更多不同特性（例如微量、微量循环、耐腐蚀等）的湿法进样器。
干法进样系统：标配DPF-110自动干法进样器，分散气压0.05-0.6MPa无级可调，三重可调下料机构设计，配备压电陶瓷精密振动控制单元及刚玉瓷分散管，可适应于各种样品及分散强度的测试要求。内置分散压传感器和负压传感器，测试条件可追溯。测试窗口全密闭，具有负压保护装置，可有效防止窗口和主机的污染。
五、功能强大的分析软件
软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化，流程界面清晰明了，拥有导航功能
仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效减少电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试，手动测样亦有清晰的导航测试功能。

完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数

具备SOP标准操作流程，减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化

SOP测量控制界面：

多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要

体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换  

多种方式的测量数据导出，方便数据交流

 具有兼容GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。
 

六、良好的测试性能
宽广的测量范围
Topsizer的实测范围为0.02-2000um，从亚微米颗粒到毫米级颗粒均可一次性实现检测，能满足粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。

对大颗粒具有强大测试性能

对纳米、亚微米等超细颗粒具备良好识别能力

良好的重复性
Topsizer采用全自动的激光校正系统、自动对中系统，从而确保了激光角度校准的准确度，避免了光路的飘移，确保测试的重复性误差小于0.5%（标准粒子D50）。

良好的再现性
不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。

杰出的分辨能力
Topsizer能够准确测定样品中颗粒分布的微小变化，准确反映样品的实际粒度分布，能够满足技术研究和质量控制的需要。